研究人員研發可快速辨識石墨烯薄片缺陷的新技術
- 上線日期：2011/1/12 上午 12:00:00
- 資料來源：電子工程專輯
純石墨烯(graphene)薄片製成的IC能以比矽晶片更低的溫度、更高的速度運作，但遺憾的是，無缺陷的石墨烯薄片非常難產生，甚至其缺陷也很難表徵出來。為此美國康乃爾大學(Cornell University)研究人員宣佈發明了一種影像技術，能藉由將石墨烯薄片色彩化，來簡化其量測方法，快速地辨識出石墨烯薄片的特性。
康乃爾大學發明的新技術，能藉由將完美的石墨烯片邊緣著色，來區分出石墨烯薄片的哪些區域是真正的單層膜(monolayers)；利用繞射成像電子顯微鏡(diffraction imaging electron microscopy)，該技術能量測出電子從石墨烯薄片表面反彈的角度，然後用不一樣的顏色來標示，所產生的色彩化薄片影像，就能很快地根據其定位辨識出晶界(grain boundaries)。
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