遠場光學造影也能擺脫繞射極限
- 上線日期：2013/6/20 上午 12:00:00
- 資料來源：奈米科學網
美國研究人員利用利用「泵浦-探測」(pump-probe)技術克服光的繞射極限(diffraction limit)，首度以不需使用螢光標籤的遠場光學造影技術(far-field optical imaging)，取得解析度極高的奈米結構影像。
在過去，如果要以光學顯微鏡拍攝奈米結構的影像，得靠螢光輔助將訊號讀出，不過最近由Ji-Xin Cheng領導的普渡大學及加州大學爾灣(Irvine)校區研究團隊發展出一種名為「飽和瞬變吸收顯微術」(saturated transient absorption microscopy)的新技術，利用泵浦-探測過程來為非螢光物體造影，其操作原理是利用一道泵浦雷射光造成樣品電荷載子密度的擾動，接著再以探測雷射光量測透射率的變化。
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