利用原子力顯微鏡分辨正常與罹癌細胞
- 上線日期：2009/5/15 上午 12:00:00
- 資料來源：奈米科學網
美國科學家最近利用原子力顯微鏡(atomic force microscope, AFM)，觀察到正常與癌化細胞表面特性的重要差異。克拉克森(Clarkson)大學的Igor Sokolov等人發現正常細胞表面具有單一長度的刷狀物，癌化細胞則有兩種長度的刷狀物，且密度也和正常細胞不同，重要的是這種差異能可能造成正常和癌化細胞對奈米微粒產生不同的反應，這點將有助於開發出偵測及治療癌細胞的系統。
癌細胞有許多異於正常細胞的地方，例如具有不同的機械性質，吸附於其他細胞及胞外基質的方式也不同。克拉克森研究小組發現的刷狀構造差異，幾乎無法以光學或電子顯微鏡定量觀測到，然而大多由微脊(microridges)和微絨毛(microvilli)組成的刷狀物，卻是細胞與環境互動的必要構造。
克拉克森小組利用原子力顯微鏡測量並分析細胞表面，結果發現癌化細胞具有兩層結構，於是研發出一套偵測方法來分開這兩層結構，以進行各別研究。Sokolov指出，正常細胞和癌化細胞表面的幾何構造不同，因此對微粒和奈米微粒的反應也不同，利用這種差異可以發展癌症偵測和投藥治療系統，如螢光二氧化矽微粒就能用來偵測癌細胞。
該小組計畫發展出更好的偵測方法，以期能更精確地偵測細胞表面特徵，同時希望生物學家能多利用原子力顯微鏡技術來觀察細胞。Sokolov指出，許多生物學家認為原子力顯微鏡用途非常有限，實則不然，該小組的成果即證明了它的潛在價值。詳見Nature Nanotechnology doi:10.1038/nnano.2009.77。
原始網站: http://nanotechweb.org/cws/article/tech/38795
譯者:賽逸昕(國家衛生研究院)
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