偏光顯微術揭開奈米碳管對掌性
- 上線日期：2013/12/17 上午 12:00:00
- 資料來源：奈米科學網
現行的製備技術生產出來的單壁奈米碳管(single-walled carbon nanotube, SWCNT)通常具有不同的捲曲方式，此性質又稱為對掌性(chirality)。奈米碳管的電子性質與對掌性有關，因此對掌性會影響裝置的性質，然而要辨別基板或元件中個別碳管的對掌性卻極為困難。最近，美國研究人員最近提出一套使用反射式偏光顯微鏡(reflective polarized light microscopy)的方法，可望能克服此難題。
SWCNT可視為由具有六角晶格的碳平面捲曲而成，直徑約為1 nm。對掌性指的是晶格相對於碳管對稱軸的方向，它決定了碳管為金屬或半導體性。SWCNT由於擁有極高表面積和絕佳電荷傳輸性質，非常適合用來製作感應器和電晶體等元件，然而目前各種方法造出來的碳管仍免不了是半導性與金屬性碳管的混合物。
最近，加州大學柏克萊分校(UC Berkeley)的Feng Wang與勞倫斯伯克利國家實驗室(LBNL)的合作者提出一種辨別碳管對掌性的方法。團隊成員Kaihui Liu解釋，確認對掌性的最佳方式是使用偏光顯微鏡和光譜，原因是偏振光對於系統中光學各向異性極為敏感。然而，奈米碳管受偏振光照射後產生的訊號極為微弱，在背景噪訊的影響下難以測得。
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