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立錡與宜特共同揭示MEMS G-Sensor檢測合作成果

  • 上線日期:2015/3/3 上午 12:00:00
  • 資料來源:CTIMES

立錡科技與宜特科技宣布一項MEMS檢測合作成果,雙方針對立錡積極開發的MEMS G-Sensor提出最佳分析除錯解決方案。基於宜特建構出的一代MEMS G-Sensor標準失效分析流程,2013年雙方已有成功的合作經驗;2014年在二代MEMS分析技術,再度攜手合作,順利協助立錡在MEMS設計階段釐清失效因素,此分析技術更獲得ISQED(國際品質電子設計研討會)認可。

隨智慧型產品、穿戴式裝置與物聯網的需求下,MEMS G-Sensor元件需求量逐步放大,IC設計公司積極佈局,渴望取得市場先機,佔有一席之地。

「立錡是IC設計公司中積極佈局MEMS的廠商之一,宜特與立錡長期共同合作,從產品研發至試產階段,釐清MEMS G-Sensor失效因素,提供全方位整合服務,協助立錡加快設計、產品設計定案與產品上市的時程。」宜特科技故障分析工程處處長許如宏表示。

全文連結:http://www.ctimes.com.tw/DispNews/tw/G-Sensor/%E7%89%A9%E8%81%AF%E7%B6%B2/%E8%A8%98%E6%86%B6%E5%85%83%E4%BB%B6/%E9%9B%BB%E5%AD%90%E6%84%9F%E6%B8%AC%E5%85%83%E4%BB%B6/IC%E8%A8%AD%E8%A8%88/1501131504PL.shtml

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