利用軟體為原子力顯微鏡加速
- 上線日期：2009/2/3 上午 12:00:00
- 資料來源：奈米科學網
南韓的科技專家發明一個新模型，能讓原子力顯微鏡(atomic force microscope, AFM)在短短數秒鐘內擷取在液體中的細胞影像。這個利用軟體來改善影像的方法，提供使用者在高速掃描中所需的最佳參數條件，而且不需添加其他硬體設備就能應用在任何原子力顯微鏡上。
在掃描乾的樣品時，傳統AFM通常可以高速掃描取得清晰的影像；然而對於浸泡在液體中的樣品，就另當別論了。當掃描速率增加時，樣品的影像變得扭曲，研究人員發現此現象與液體的黏滯性(viscosity)有密不可分的關係。解決的方法之一是在掃描探針上施加一負載力(loading force)，用來抵消因液體黏滯性所產生的阻力。
為了決定該施加多少力，國立首爾大學(Seoul National University)與光雲大學(Kwangwoon University)的研究團隊將一系列已知的參數輸入設計的軟體中，包括液體的黏滯性、密度以及AFM探針的尺寸大小。研究結果令人非常振奮。以往在50 μm/s的掃描速率下，細菌細胞的影像就會開始變模糊，然而在研究團隊加入負載後，以超過200 μm/s的速率進行掃描仍有可能產生不失真的影像。
這項名為變數控制快速掃描(variable-controlled fast scanning)的技術使研究團隊可以即時檢測生物系統，因此為研究奈米材料對細胞行為的影響開闢了一條新道路。詳見Nanotechnology 19 445701 (2008)。
原始網站: http://nanotechweb.org/cws/article/tech/37188
譯者:蘇俊鐘(中央研究院應用科學研究中心)
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