電晶體理論出現基礎性謬誤？
- 上線日期：2009/5/27 上午 12:00:00
- 資料來源：電子工程專輯
美國國家標準與技術局(National Institute of Standards and Technology，NIST)的研究人員日前警告，業界對電晶體雜訊(transistor noise)的認知有基礎性的謬誤，而這個問題若不解決，可能會成為開發功效更高、更省電元件之障礙。
這個由Jason Campbell率領的研究團隊，是在研究尺寸日益縮小的電晶體開關狀態間的變化時，無意中發現上述的問題。研究人員宣稱，被業界廣泛接受的、用以解釋由開關內電子雜訊導致之誤差的模型，與實際情況並不相符。但幾十年來，大多數工程師們卻已經接受了定義那些缺陷、並協助指引改善方法的理論模型。Campbell表示：「當電晶體尺寸還很大的時候，該模型是確實可行的，但我們的觀察明確指出，當產業界邁向尺寸更小的奈米級製程時，它就不適用了。」
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