能高QSPI模組實現高效率MEMS測試
- 上線日期：2011/5/3 上午 12:00:00
- 資料來源：電子工程專輯
能高電子使(OpenATE Inc.)日前發佈全新 QSPI 測試模組，在搭配 NI PXI 機箱後，將可為微機電系統(MEMS)測試提供低成本的高效能測試解決方案。該QSPI測試模組整合在一片3U PXI卡內，運用其4個站(site)進行測試，加上提供的 I2C/SPI 硬體模式及可編程特性，可實現高效率的測試。
能高表示，目前傳統 IC Tester 多以pattern為基礎，測試I2C介面，處理 16 個或更多 site 之平行測試就變得沒效率且困難。而能高的 QSPI 模組可搭配 NI PXI-1033 機箱使用，只要內插4片QSPI，就可達成16個site平行測試、數位模式測試，另外，內建PMU 亦可以執行 DC測量，再使用MTS2開放式軟體平台中的Multi -site選項，即可搭配軟/硬體以建構出整合系統，實現低成本方案。
以G sensor 量測為例，在進行G sensor量測時，必須對DUT加速，這使得handler + rotator 成為最大的投資。因為機械動作的耗時，使得大規模平行測試成為量產的必要選項。由於DUT大都使用I2C為電子介面，而且常要在不同DUT中寫入不同校正參數，以致傳統數位IC TESTER在這種應用上變得繁瑣無效率。
<全文連結>
- 相關附件: